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一种低功耗BIST测试产生器方案 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 36
作者:  何蓉晖;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：13/0  |  提交时间：2023/12/04
BIST  低功耗设计  内建自测试  测试产生器  线性反馈移位寄存器  集成电路  
可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准  
一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核