中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共6条，第1-6条

帮助

限定条件	出处：JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY    作者：Li, XW    第一作者    专题：中国科学院计算技术研究所期刊论文    第一作者的第一单位    第一作者单位    通讯作者单位

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	An efficient evaluation and vector generation method for observability-enhanced statement coverage 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 6, 页码: 875-884 作者:  Lu, W;  Yang, XT;  Lv, T;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 design verification  simulation  coverage metrics  observability  vector generation
	Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation
	Formal verification techniques based on Boolean satisfiability problem 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 1, 页码: 38-47 作者:  Li, XW;  Li, GH;  Shao, M 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2019/12/16 equivalence checking  incremental satisfiability  minimal unsatisfiable formula  model checking
	Leakage current estimation of CMOS circuit with stack effect 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2004, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 708-717 作者:  Xu, YJ;  Luo, ZY;  Li, XW;  Li, LJ;  Hong, XL 收藏  |  浏览/下载：77/0  |  提交时间：2019/12/16 computer-aided design  leakage current estimation  stack effect  macromodeling  propagation of signal probability
	A novel RTL behavioral description based ATPG method 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317 作者:  Yin, ZG;  Min, YH;  Li, XW;  Li, HW 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 RTL (Register Transfer Level)  ATPG (Automatic Test Pattern Generation)  behavioral description  HDL (Hardware Description Language)
	A loop-based apparatus for at-speed self-testing 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 3, 页码: 278-285 作者:  Li, XW;  Cheung, PYS 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2019/12/16 built-in self-test  at-speed test  multiple input shift register  state transition graph