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“存储+逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146
作者:  叶靖;  郭瑞峰;  胡瑜;  郑武东;  黄宇;  赖李洋;  李晓维
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3D集成电路  硅通孔  可测试性设计  JEDEC协议JESD229  IEEE  1149  1协议  
基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480
作者:  何子键;  吕涛;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
可满足性  电路时延  电路展开  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王飞;  胡瑜;  李晓维
Adobe PDF(547Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/09
无权访问的条目 期刊论文
作者:  董 婕;  胡 瑜;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(374Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/10/15
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王伟;  韩银和;  胡瑜;  李晓维;  张佑生
Adobe PDF(417Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23
基于增量可满足性的等价性检验方法 期刊论文
计算机学报, 2004, 卷号: 27.0, 期号: 010, 页码: 1388
作者:  李光辉;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
增量可满足性  等价性检验  组合电路  形式验证  数字集成电路  等价结点  
一个适于形式验证的ATPG引擎 期刊论文
计算机研究与发展, 2004, 卷号: 41.0, 期号: 005, 页码: 886
作者:  李光辉;  邵明;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
组合电路  测试产生  形式验证  二叉判决图  布尔可满足性  
一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 期刊论文
微电子学与计算机, 2004, 卷号: 21.0, 期号: 002, 页码: 108
作者:  李晓维;  陈治国;  徐勇军
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
CMOS电路  概率分析  扫描链  动态功耗模型  电路功耗  静态功耗  动态功耗  
SOC测试数据的编码压缩技术 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 002, 页码: 44
作者:  韩银和;  李晓维;  徐勇军;  蒋敬旗
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测试  编码压缩技术  SOC  哈夫曼编码  游程编码  Golomb编码  最小海明距离排序  系统集成技术  集成电路