中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条

帮助

限定条件	出处：IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	Exploring Winograd Convolution for Cost-Effective Neural Network Fault Tolerance 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2023, 卷号: 31, 期号: 11, 页码: 1763-1773 作者:  Xue, Xinghua;  Liu, Cheng;  Liu, Bo;  Huang, Haitong;  Wang, Ying;  Luo, Tao;  Zhang, Lei;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：1/0  |  提交时间：2024/05/20 Fault tolerant systems  Fault tolerance  Artificial neural networks  Convolution  Reliability  Computational modeling  Neurons  Fault-tolerance  soft errors  vulnerability analysis  winograd convolution (WG-Conv)
	Soft Error Reliability Analysis of Vision Transformers 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2023, 页码: 11 作者:  Xue, Xinghua;  Liu, Cheng;  Wang, Ying;  Yang, Bing;  Luo, Tao;  Zhang, Lei;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04 ABFT  fault-tolerance  soft errors  vision transformers (ViTs)  vulnerability analysis
	Taming Process Variations in CNFET for Efficient Last-Level Cache Design 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2022, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 418-431 作者:  Xu, Dawen;  Feng, Zhuangyu;  Liu, Cheng;  Li, Li;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：23/0  |  提交时间：2022/12/07 CNTFETs  Delays  Transistors  Layout  Very large scale integration  Radio frequency  Energy consumption  nanotube field-effect transistor (CNFET)  last-level cache (LLC)  process variation (PV)  variation-aware cache