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基于深广度的信息网格用户好用性评价 期刊论文
微电子学与计算机, 2006, 卷号: 23.0, 期号: 002, 页码: 128
作者:  杨宁;  徐志伟;  周浩杰
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信息网格  好用性,全生命周期,织女星网格  
系统芯片中低功耗测试的几种方法 期刊论文
微电子学与计算机, 2002, 卷号: 19.0, 期号: 010, 页码: 20
作者:  蒋敬旗;  周旭;  李文;  范东睿
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系统芯片  低功耗  集成电路测试  可测试性设计