中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/06/21 Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory
	Integrating Two Logics Into One Crossbar Array for Logic Gate Design 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2021, 卷号: 68, 期号: 8, 页码: 2987-2991 作者:  Yao, Lian;  Liu, Peng;  Wu, Jigang;  Han, Yinhe;  Zhong, Yuehang;  You, Zhiqiang 收藏  |  浏览/下载：38/0  |  提交时间：2021/12/01 Logic gates  Memristors  Logic arrays  Resistance  Logic functions  Adders  Switches  Logic gates  memristive crossbar  material implication  not material implication  1-bit full adder
	Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng;  Cai, Shuo;  Han, Yinhe 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing
	A signal degradation reduction method for memristor ratioed logic (MRL) gates 期刊论文 IEICE ELECTRONICS EXPRESS, 2015, 卷号: 12, 期号: 8, 页码: 6 作者:  Liu, Bosheng l;  Wang, Ying;  You, Zhiqiang;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/13 full adder  memristor ratioed logic (MRL) gate