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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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收录类别:SCI
作者:Liu, Peng
第一作者
语种:英语
资助项目:Guangdong Basic and Applied Basic Research Foundation[2019A1515110284]
文献类型:期刊论文
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Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455
作者:
Liu, Peng
;
You, Zhiqiang
;
Wu, Jigang
;
Liu, Bosheng
;
Han, Yinhe
;
Chakrabarty, Krishnendu
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浏览/下载:28/0
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提交时间:2022/06/21
Electrical defects
fault model
defect-oriented testing
March algorithm
non-volatile memory
Integrating Two Logics Into One Crossbar Array for Logic Gate Design
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 2021, 卷号: 68, 期号: 8, 页码: 2987-2991
作者:
Yao, Lian
;
Liu, Peng
;
Wu, Jigang
;
Han, Yinhe
;
Zhong, Yuehang
;
You, Zhiqiang
收藏
  |  
浏览/下载:39/0
  |  
提交时间:2021/12/01
Logic gates
Memristors
Logic arrays
Resistance
Logic functions
Adders
Switches
Logic gates
memristive crossbar
material implication
not material implication
1-bit full adder