中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Tactile-Based Fabric Defect Detection Using Convolutional Neural Network With Attention Mechanism 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2022, 卷号: 71, 页码: 9 作者:  Bin Fang;  Long, Xingming;  Sun, Fuchun;  Liu, Huaping;  Zhang, Shixin;  Fang, Cheng 收藏  |  浏览/下载：22/0  |  提交时间：2022/12/07 Fabrics  Feature extraction  Frequency-domain analysis  Tactile sensors  Cameras  Visualization  Sensors  Attention mechanism  defect detection  vision-based tactile sensor
	Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/06/21 Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory
	Defect Analysis and Parallel Testing or 3D Hybrid CMOS-Memristor Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING, 2021, 卷号: 9, 期号: 2, 页码: 745-758 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Elimu, Michael;  Wang, Weizheng;  Cai, Shuo;  Han, Yinhe 收藏  |  浏览/下载：33/0  |  提交时间：2021/12/01 Non-volatile memory  RRAM  CMOL  memristor  testing
	CoreRank: Redeeming "Sick Silicon" by Dynamically Quantifying Core-Level Healthy Condition 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2016, 卷号: 65, 期号: 3, 页码: 716-729 作者:  Yan, Guihai;  Sun, Faqiang;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/13 Reliability  heterogeneity  healthy condition  manycore processor
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  Da Wang(王 达);  Yu Hu(胡 瑜);  Hua-Wei Li(李华伟);  Xiao-Wei Li(李晓维) Adobe PDF(9188Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/02
	Improvement on rate-distortion performance of H.264 rate control in low bit rate 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS FOR VIDEO TECHNOLOGY, 2007, 卷号: 17, 期号: 8, 页码: 996-1006 作者:  Zhou, ShuMin;  Li, JinTao;  Fei, JinHao;  Zhang, YongDong 收藏  |  浏览/下载：37/0  |  提交时间：2019/12/16 bit allocation  low complexity  rate control  video coding
	I-DDT testing versus I-DDQ testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 51-55 作者:  Min, YH;  Li, ZC 收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2019/12/16 I-DDQ test  Boolean process  stuck-open fault  I-DDT test