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基于极小碰集求解算法的测试向量集约简 期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 011, 页码: 2448
作者:  欧阳丹彤;  陈晓艳;  叶靖;  邓召勇;  张立明
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电路测试  自动测试向量生成  测试向量集  约简  故障覆盖率  极小碰集  固定型故障  
覆盖率驱动的随机测试生成技术综述 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2009, 卷号: 000, 期号: 004, 页码: 419
作者:  沈海华;  卫文丽;  陈云霁
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验证  VLSI  随机测试生成  覆盖率驱动的测试生成  
数字电路测试压缩方法研究 期刊论文
中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847
作者:  HAN YinHe;  LI XiaoWei
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系统芯片  测试激励压缩  测试响应压缩  扫描设计  自动测试向量生成(ATPG)  不关心位  未知位  卷积编码  
覆盖状态内部分枝的测试向量生成 期刊论文
小型微型计算机系统, 2006, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 745
作者:  杨修涛;  鲁巍;  李华伟;  李晓维
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状态覆盖  分枝覆盖  测试向量生成  
一个适于形式验证的ATPG引擎 期刊论文
计算机研究与发展, 2004, 卷号: 41.0, 期号: 005, 页码: 886
作者:  李光辉;  邵明;  李晓维
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组合电路  测试产生  形式验证  二叉判决图  布尔可满足性