中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	基于扫描链的可编程片上调试系统 期刊论文 高技术通讯, 2015, 卷号: 000, 期号: 006, 页码: 584 作者:  陈华军;  娄卓阳;  王焕东;  刘慧;  王琳 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04 硅后调试  片上调试系统  可编程  可调试性设计  故障诊断  实速测试
	“存储＋逻辑”3D集成电路的硅通孔可测试性设计 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2014, 卷号: 26.0, 期号: 1.0, 页码: 146 作者:  叶靖;  郭瑞峰;  胡瑜;  郑武东;  黄宇;  赖李洋;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：6/0  |  提交时间：2023/12/04 3D集成电路  硅通孔  可测试性设计  JEDEC协议JESD229  IEEE  1149  1协议
	一种有效降低扫描结构测试功耗的方法 期刊论文 湖南大学学报：自然科学版, 2009, 卷号: 36.0, 期号: 012, 页码: 45 作者:  张红南;  王松;  徐君;  李向库;  张志伟 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 扫描测试  测试向量  组合逻辑电路  动态功耗
	数字电路测试压缩方法研究 期刊论文 中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847 作者:  HAN YinHe;  LI XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 系统芯片  测试激励压缩  测试响应压缩  扫描设计  自动测试向量生成（ATPG）  不关心位  未知位  卷积编码
	一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型 期刊论文 微电子学与计算机, 2004, 卷号: 21.0, 期号: 002, 页码: 108 作者:  李晓维;  陈治国;  徐勇军 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 CMOS电路  概率分析  扫描链  动态功耗模型  电路功耗  静态功耗  动态功耗
	一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核