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A novel RTL behavioral description based ATPG method 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 308-317
作者:  Yin, ZG;  Min, YH;  Li, XW;  Li, HW
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RTL (Register Transfer Level)  ATPG (Automatic Test Pattern Generation)  behavioral description  HDL (Hardware Description Language)  
Clustering of behavioral phases in FSMs and its applications to VLSI test 期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES F, 2002, 卷号: 45, 期号: 6, 页码: 462-478
作者:  Li, HW;  Min, YH;  Li, ZC
收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16
finite-state machines  clustering of states  behavioral descriptions  test generation  
Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485
作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH
收藏  |  浏览/下载：68/0  |  提交时间：2019/12/16
delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model