中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共2条，第1-2条

帮助

限定条件	出处：JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195 作者:  Li, HW;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：41/0  |  提交时间：2019/12/16 delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths
	Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485 作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：68/0  |  提交时间：2019/12/16 delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model