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Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232
作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei
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selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling  
Testable Critical Path Selection Considering Process Variation 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 1, 页码: 59-67
作者:  Fu, Xiang;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载:39/0  |  提交时间:2019/12/16
testable critical path selection  process variation