中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	出处：IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS    作者：Wang, Ying分Wang, Ying    语种：英语

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	Taming Process Variations in CNFET for Efficient Last-Level Cache Design 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2022, 卷号: 30, 期号: 4, 页码: 418-431 作者:  Xu, Dawen;  Feng, Zhuangyu;  Liu, Cheng;  Li, Li;  Wang, Ying;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：26/0  |  提交时间：2022/12/07 CNTFETs  Delays  Transistors  Layout  Very large scale integration  Radio frequency  Energy consumption  nanotube field-effect transistor (CNFET)  last-level cache (LLC)  process variation (PV)  variation-aware cache
	An Adaptive Thermal-Aware ECC Scheme for Reliable STT-MRAM LLC Design 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2019, 卷号: 27, 期号: 8, 页码: 1851-1860 作者:  Wu, Bi;  Zhang, Beibei;  Cheng, Yuanqing;  Wang, Ying;  Liu, Dijun;  Zhao, Weisheng 收藏  |  浏览/下载：77/0  |  提交时间：2019/12/10 Error correction code (ECC)  last level cache (LLC)  reliability  spin-transfer-torque magnetoresistive random-access memory (STT-MRAM)  temperature