中国科学院计算技术研究所机构知识库

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发表日期：2000

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	Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485 作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/16 delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model