中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共4条，第1-4条

帮助

限定条件	作者：Han, Yinhe    第一作者    作者：Li, Huawei

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择期刊影响因子升序期刊影响因子降序发表日期升序发表日期降序提交时间升序提交时间降序作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序题名升序题名降序
	STT-RAM Buffer Design for Precision-Tunable General-Purpose Neural Network Accelerator 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2017, 卷号: 25, 期号: 4, 页码: 1285-1296 作者:  Song, Lili;  Wang, Ying;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Cheng, Yuanqing;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2019/12/12 Approximate computing  machine learning  neural network  spin toque transfer RAM (STT-RAM)
	Statistical lifetime reliability optimization considering joint effect of process variation and aging 期刊论文 INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 2011, 卷号: 44, 期号: 3, 页码: 185-191 作者:  Jin, Song;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：67/0  |  提交时间：2019/12/16 Lifetime reliability  Process variation  NBTI  Duty cycle  Gate sizing
	A New Multiple-Round Dimension-Order Routing for Networks-on-Chip 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2011, 卷号: E94D, 期号: 4, 页码: 809-821 作者:  Fu, Binzhang;  Han, Yinhe;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：70/0  |  提交时间：2019/12/16 network-on-chip (NoC)  fault-tolerant routing  multiple round dimension-order routing  turn model
	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：45/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time