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| 采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371 作者: 邱吉冰; 韩银和; 靳松; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 负偏置温度不稳定性 漏电流 老化 工艺偏差 |
| 面向高可靠片上网络通信的可重构路由算法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 448 作者: 付斌章; 韩银和; 李华伟; 李晓维
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| 通过器件共享实现的双向无阻塞光互连片上网络 期刊论文 小型微型计算机系统, 2011, 卷号: 32.0, 期号: 010, 页码: 1928 作者: 巴音达拉; 韩银和; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 片上网络 光互连 器件共享 双向传输 |
| 时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029 作者: 王杰; 张磊; 李华伟; 韩银和; 李晓维; 梁华国
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 吴明行; 韩银和; 胡瑜; 王飞; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 王 伟; 韩银和; 胡 瑜; 李晓维; 张佑生
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 董 婕; 胡 瑜; 韩银和; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 王伟; 韩银和; 胡瑜; 李晓维; 张佑生
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| 一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文 计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219 作者: 檀彦卓; 韩银和; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 验证测试 生产测试 失效分析 可测试性设计 故障模型 |
| 测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法 期刊论文 计算机工程, 2006, 卷号: 32, 期号: 23, 页码: 250 作者: 吴明行; 韩银和; 胡瑜 ; 李晓维
![](/themes/default/image/downing1.png) 收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04 测试向量 波形数据格式 标准测试接口语言 压缩编码算法 |