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采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371
作者:  邱吉冰;  韩银和;  靳松;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04
负偏置温度不稳定性  漏电流  老化  工艺偏差  
面向高可靠片上网络通信的可重构路由算法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 448
作者:  付斌章;  韩银和;  李华伟;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
片上网络  容错路由  可重构路由  转向模型  
通过器件共享实现的双向无阻塞光互连片上网络 期刊论文
小型微型计算机系统, 2011, 卷号: 32.0, 期号: 010, 页码: 1928
作者:  巴音达拉;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
片上网络  光互连  器件共享  双向传输  
时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029
作者:  王杰;  张磊;  李华伟;  韩银和;  李晓维;  梁华国
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
3D  IC  绑定  时延测量  关键通路  成品率  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  吴明行;  韩银和;  胡瑜;  王飞;  李晓维
Adobe PDF(325Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/22
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王 伟;  韩银和;  胡 瑜;  李晓维;  张佑生
Adobe PDF(340Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/10/13
无权访问的条目 期刊论文
作者:  董 婕;  胡 瑜;  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(374Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/10/15
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王伟;  韩银和;  胡瑜;  李晓维;  张佑生
Adobe PDF(417Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23
一种微处理器芯片的验证测试分析及应用 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32.0, 期号: 009, 页码: 219
作者:  檀彦卓;  韩银和;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
验证测试  生产测试  失效分析  可测试性设计  故障模型  
测试向量转换中波形数据格式及其压缩编码算法 期刊论文
计算机工程, 2006, 卷号: 32, 期号: 23, 页码: 250
作者:  吴明行;  韩银和;  胡瑜;  李晓维
收藏  |  浏览/下载:5/0  |  提交时间:2023/12/04
测试向量  波形数据格式  标准测试接口语言  压缩编码算法