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| 采用关键路径漏电流变化分析的集成电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2015, 卷号: 27.0, 期号: 002, 页码: 371 作者: 邱吉冰; 韩银和; 靳松; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:7/0  |  提交时间:2023/12/04 负偏置温度不稳定性 漏电流 老化 工艺偏差 |
| 时序敏感的3D IC绑定优化方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2029 作者: 王杰; 张磊; 李华伟; 韩银和; 李晓维; 梁华国 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 3D IC 绑定 时延测量 关键通路 成品率 |
| 考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242 作者: 靳松; 韩银和; 李华伟; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 负偏置温度不稳定性 电路老化 占空比 非线性优化 |
| 动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 011, 页码: 2013 作者: 刘军; 韩银和; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 测试数据压缩 扫描切片 参考切片 压缩率 相容 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 韩银和; 李晓维; 罗飞茵; 林建京; 陈宇川; 朱小荣 Adobe PDF(408Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 徐勇军; 韩银和; 李华伟; 李晓维 Adobe PDF(395Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/24 |
| 无权访问的条目 期刊论文 作者: 李吉; 韩银和; 李晓维 Adobe PDF(320Kb)  |  收藏  |  浏览/下载:0/0  |  提交时间:2010/11/23 |
| 应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文 计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55 作者: 李吉; 徐勇军; 韩银和; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 可测性设计 逻辑内建自测试 测试点插入 |
| 面向存储器核的内建自测试 期刊论文 计算机工程与科学, 2005, 卷号: 27.0, 期号: 004, 页码: 40 作者: 檀彦卓; 徐勇军; 韩银和; 李华伟; 李晓维 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 嵌入式随机存储器 测试 存储器 存储器核 自测试技术 |
| 应用Variable-Tail编码压缩的测试资源划分方法 期刊论文 电子学报, 2004, 卷号: 32.0, 期号: 008, 页码: 1346 作者: 韩银和; 李晓维; 徐勇军; 李华伟 收藏  |  浏览/下载:6/0  |  提交时间:2023/12/04 Variable-Tail编码 Golomb编码 可适应性 测试模式 诊断模式 |