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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 高文
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| Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
作者: Zhang, Minjin; Li, Huawei; Li, Xiaowei
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Crosstalk-induced delay delay testing path delay fault signal integrity test generation timing analysis |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 裴颂伟; 李华伟
Adobe PDF(496Kb) | 收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2010/03/30 |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
Adobe PDF(532Kb) | 收藏 | 浏览/下载：0/0 | 提交时间：2010/11/05 |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Ying Zhang(张颖); Hua-Wei Li(李华伟); Xiao-Wei Li(李晓维)
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: Da Wang(王 达); Yu Hu(胡 瑜); Hua-Wei Li(李华伟); Xiao-Wei Li(李晓维)
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 张旻晋; 李华伟; 李晓维
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| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 李华伟; 李晓维
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| Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者: Li, HW; Li, XW
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delay test crosstalk automatic test pattern generation (ATPG) critical paths |
| 无权访问的条目 期刊论文
作者: 檀彦卓; 韩银和; 李晓维
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