中国科学院计算技术研究所机构知识库

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限定条件	作者：Han, Yinhe分Han, Yinhe

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	Fault Modeling and Efficient Testing of Memristor-Based Memory 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, 2021, 卷号: 68, 期号: 11, 页码: 4444-4455 作者:  Liu, Peng;  You, Zhiqiang;  Wu, Jigang;  Liu, Bosheng;  Han, Yinhe;  Chakrabarty, Krishnendu 收藏  |  浏览/下载：25/0  |  提交时间：2022/06/21 Electrical defects  fault model  defect-oriented testing  March algorithm  non-volatile memory
	An Analytical Framework for Estimating Scale-Out and Scale-Up Power Efficiency of Heterogeneous Manycores 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS, 2016, 卷号: 65, 期号: 2, 页码: 367-381 作者:  Ma, Jun;  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2019/12/13 Heterogeneous manycores  scale-out  scale-up  analytical model  power efficiency  runtime management