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Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209
作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A
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system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation  
Leakage current estimation of CMOS circuit with stack effect 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2004, 卷号: 19, 期号: 5, 页码: 708-717
作者:  Xu, YJ;  Luo, ZY;  Li, XW;  Li, LJ;  Hong, XL
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computer-aided design  leakage current estimation  stack effect  macromodeling  propagation of signal probability