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基于SAT的快速电路时延计算 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 003, 页码: 480
作者:  何子键;  吕涛;  李华伟;  李晓维
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可满足性  电路时延  电路展开  
考虑工作负载影响的电路老化预测方法 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 012, 页码: 2242
作者:  靳松;  韩银和;  李华伟;  李晓维
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负偏置温度不稳定性  电路老化  占空比  非线性优化  
一种遵循IEEE 1149．1标准的可测试性设计结构 期刊论文
微电子学与计算机, 2003, 卷号: 20.0, 期号: 005, 页码: 23
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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IEEE1149.1标准  国际标准  可测试性设计结构  时序电路  
一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战
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CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核  
一种面向测试的RTL行为抽象与蕴含方法 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1199
作者:  尹志刚;  李华伟;  李晓维
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抽象  蕴含  寄存器传输级  行为描述  测试向量  集成电路  芯片测试