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Intelligent analysis and off-line debugging of VLSI device test programs 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1999, 卷号: 14, 期号: 3, 页码: 273-293
作者:  Ma, YH;  Shi, WC
收藏  |  浏览/下载：66/0  |  提交时间：2019/12/16
test program  error type  off-line debugging environment  fuzzy set  FCE (fuzzy comprehensive evaluation)  reference set  evaluation space  evaluation factor  evaluation remark  fuzzy relation  test entity  relevance coefficient