中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232 作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2019/12/16 selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling