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I-DDT: Fundamentals and test generation 期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2003, 卷号: 18, 期号: 3, 页码: 299-307
作者:  Kuang, JS;  You, ZQ;  Zhu, QJ;  Min, YH
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I-DDT testing  logical transition  hazard  stuck-open fault  
I-DDT testing versus I-DDQ testing 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 1998, 卷号: 13, 期号: 1, 页码: 51-55
作者:  Min, YH;  Li, ZC
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I-DDQ test  Boolean process  stuck-open fault  I-DDT test