中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536 作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei 收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2021/12/01 Ciphers  Encryption  Integrated circuits  Side-channel attacks  Testing  Cryptographic hash function  obfuscation logic  scan design  scan-based side-channel attack
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：71/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	Wrapper scan chains design for rapid and low power testing of embedded cores 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2005, 卷号: E88D, 期号: 9, 页码: 2126-2134 作者:  Han, YH;  Hu, Y;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A;  Wen, XQ 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2019/12/16 SOC testing  wrapper design  scan slices  overlapping