中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Compression/scan co-design for reducing test data volume, scan-in power dissipation, and test application time 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2006, 卷号: E89D, 期号: 10, 页码: 2616-2625 作者:  Hu, Yu;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Wen, Xiaoqing 收藏  |  浏览/下载：54/0  |  提交时间：2019/12/16 compression  run-length coding  random access scan  power dissipation  test application time