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Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485
作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH
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delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model  
Boolean process 期刊论文
SCIENCE IN CHINA SERIES E-TECHNOLOGICAL SCIENCES, 1997, 卷号: 40, 期号: 3, 页码: 250-257
作者:  Min, YH;  Li, ZC;  Zhao, ZX
收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/10
Boolean process  waveform  waveform limit  path sensitization