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LAPS: Layout-Aware Path Selection for Post-Silicon Timing Characterization 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2017, 卷号: E100D, 期号: 2, 页码: 323-331
作者:  Hu, Yu;  Ye, Jing;  Shi, Zhiping;  Li, Xiaowei
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process variation  timing variation  sample  path selection  least square  
Testable Critical Path Selection Considering Process Variation 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 1, 页码: 59-67
作者:  Fu, Xiang;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
收藏  |  浏览/下载：44/0  |  提交时间：2019/12/16
testable critical path selection  process variation