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Functional Test Generation for Hard-to-Reach States Using Path Constraint Solving 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2016, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 999-1011
作者:  Zhou, Yanhong;  Wang, Tiancheng;  Li, Huawei;  Lv, Tao;  Li, Xiaowei
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Abstraction-guided simulation  functional test generation  hard-to-reach states  path constraint solving