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A Guaranteed Secure Scan Design Based on Test Data Obfuscation by Cryptographic Hash 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2020, 卷号: 39, 期号: 12, 页码: 4524-4536
作者:  Cui, Aijiao;  Li, Mengyang;  Qu, Gang;  Li, Huawei
收藏  |  浏览/下载：36/0  |  提交时间：2021/12/01
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