中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共1条，第1-1条

帮助

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序提交时间升序提交时间降序期刊影响因子升序期刊影响因子降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序
	Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485 作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2019/12/16 delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model