中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232 作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：52/0  |  提交时间：2019/12/16 selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling