中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)
	Test resource partitioning based on efficient response compaction for test time and tester channels reduction 期刊论文 JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2005, 卷号: 20, 期号: 2, 页码: 201-209 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：43/0  |  提交时间：2019/12/16 system-on-a-chip (SoC)  test resource partitioning (TRP)  response compaction  diagnose  error cancellation