中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982 作者:  Zhang, Minjin;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2019/12/16 Crosstalk-induced delay  delay testing  path delay fault  signal integrity  test generation  timing analysis
	Reduction of number of paths to be tested in delay testing 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2000, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 477-485 作者:  Li, HW;  Li, ZC;  Min, YH 收藏  |  浏览/下载：73/0  |  提交时间：2019/12/16 delay testing  path sensitization  linearly independent  analytical delay model