中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982 作者:  Zhang, Minjin;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：78/0  |  提交时间：2019/12/16 Crosstalk-induced delay  delay testing  path delay fault  signal integrity  test generation  timing analysis
	Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文 JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195 作者:  Li, HW;  Li, XW 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/16 delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths