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Path Delay Test Generation Toward Activation of Worst Case Coupling Effects 期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2011, 卷号: 19, 期号: 11, 页码: 1969-1982
作者:  Zhang, Minjin;  Li, Huawei;  Li, Xiaowei
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Crosstalk-induced delay  delay testing  path delay fault  signal integrity  test generation  timing analysis  
BAT: Performance-Driven Crosstalk Mitigation Based on Bus-Grouping Asynchronous Transmission 期刊论文
IEICE TRANSACTIONS ON ELECTRONICS, 2008, 卷号: E91C, 期号: 10, 页码: 1690-1697
作者:  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei;  Liu, Hui
收藏  |  浏览/下载：39/0  |  提交时间：2019/12/16
crosstalk delay  on-chip buses  bus-grouping transmission  asynchronous  shielding  
Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者:  Li, HW;  Li, XW
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delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths