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Selection of crosstalk-induced faults in enhanced delay test 期刊论文
JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS, 2005, 卷号: 21, 期号: 2, 页码: 181-195
作者:  Li, HW;  Li, XW
收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/16
delay test  crosstalk  automatic test pattern generation (ATPG)  critical paths