中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Embedded test decompressor to reduce the required channels and vector memory of tester for complex processor circuit 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, 2007, 卷号: 15, 期号: 5, 页码: 531-540 作者:  Han, Yinhe;  Hu, Yu;  Li, Xiaowei;  Li, Huawei;  Chandra, Anshuman 收藏  |  浏览/下载：48/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment (ATE)  Godson processor  MUX network  test stimulus decompression
	Embedded test resource for SoC to reduce required tester channels based on advanced convolutional codes 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT, 2006, 卷号: 55, 期号: 2, 页码: 389-399 作者:  Han, YH;  Li, XW;  Li, HW;  Chandra, A 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2019/12/16 automatic test equipment  convolutional code  diagnosis  error cancellation  masking  unknown bits (X-bits)