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可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用 期刊论文
计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191
作者:  李华伟;  李晓维;  尹志刚;  吕涛;  何蓉晖
收藏  |  浏览/下载：14/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  CPU芯片  扫描设计  TEEE1149.1标准