中国科学院计算技术研究所机构知识库

浏览/检索结果: 共3条，第1-3条

帮助

已选(0)清除 条数/页：5101520253035404550556065707580859095100   排序方式：请选择作者升序作者降序WOS被引频次升序WOS被引频次降序提交时间升序提交时间降序期刊影响因子升序期刊影响因子降序题名升序题名降序发表日期升序发表日期降序
	Scan chain design for shift power reduction in scan-based testing 期刊论文 SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2011, 卷号: 54, 期号: 4, 页码: 767-777 作者:  Li Jia;  Hu Yu;  Li XiaoWei 收藏  |  浏览/下载：69/0  |  提交时间：2019/12/16 low power DfT  scan-based testing  test power reduction  scan chain design
	MicroFix: Using Timing Interpolation and Delay Sensors for Power Reduction 期刊论文 ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS, 2011, 卷号: 16, 期号: 2, 页码: 21 作者:  Yan, Guihai;  Han, Yinhe;  Liu, Hui;  Liang, Xiaoyao;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：68/0  |  提交时间：2019/12/16 Design  Performance  Reliability  Power reduction  fine-grained adaptability  DVFS  timing interpolation  delay sensor
	Extended Selective Encoding of Scan Slices for Reducing Test Data and Test Power 期刊论文 IEICE TRANSACTIONS ON INFORMATION AND SYSTEMS, 2010, 卷号: E93D, 期号: 8, 页码: 2223-2232 作者:  Liu, Jun;  Han, Yinhe;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：50/0  |  提交时间：2019/12/16 selective encoding  test data compression  test power reduction  flexible grouping  X-filling