×
验证码:
换一张
忘记密码?
记住我
×
登录
中文版
|
English
中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
登录
注册
ALL
ORCID
题名
作者
学科领域
关键词
文献类型
出处
收录类别
出版者
发表日期
存缴日期
资助项目
学科门类
学习讨论厅
图片搜索
粘贴图片网址
首页
研究单元&专题
作者
文献类型
学科分类
知识图谱
新闻&公告
在结果中检索
研究单元&专题
中国科学院计算技术研... [5]
作者
Li, Xiaowe... [2]
Ye, Jing [2]
Feng, Baim... [1]
Guihai YAN [1]
Guo, Qingl... [1]
Hu, Yu [1]
更多...
文献类型
期刊论文 [5]
发表日期
2024 [1]
2018 [3]
2001 [1]
语种
英语 [5]
出处
IEEE SYSTE... [1]
IEEE TRANS... [1]
JOURNAL OF... [1]
SCIENCE CH... [1]
中国科学:信息科学(... [1]
资助项目
National N... [2]
National N... [2]
National N... [2]
National N... [2]
Ministry o... [1]
National N... [1]
更多...
收录类别
SCI [4]
资助机构
×
知识图谱
CSpace
开始提交
已提交作品
待认领作品
已认领作品
未提交全文
收藏管理
QQ客服
官方微博
反馈留言
浏览/检索结果:
共5条,第1-5条
帮助
已选(
0
)
清除
条数/页:
5
10
15
20
25
30
35
40
45
50
55
60
65
70
75
80
85
90
95
100
排序方式:
请选择
作者升序
作者降序
WOS被引频次升序
WOS被引频次降序
提交时间升序
提交时间降序
期刊影响因子升序
期刊影响因子降序
题名升序
题名降序
发表日期升序
发表日期降序
An Intelligent Secure Fault Classification and Identification Scheme for Mining Valuable Information in IIoT
期刊论文
IEEE SYSTEMS JOURNAL, 2024, 页码: 12
作者:
Zhang, Ying
;
Zhang, Wenyuan
;
Jiang, Xiaoyu
;
Sun, Yuzhong
;
Feng, Baiming
;
Xiong, Naixue
;
Wo, Tianyu
收藏
  |  
浏览/下载:2/0
  |  
提交时间:2024/12/06
Industrial Internet of Things
Vectors
Pattern matching
Fault diagnosis
Fault detection
Feature extraction
Source coding
Abnormal detection
Industrial Internet of Things (IIoT)
log mining
security
S-Kmeans
Deterministic and Probabilistic Diagnostic Challenge Generation for Arbiter Physical Unclonable Function
期刊论文
IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2018, 卷号: 37, 期号: 12, 页码: 3186-3197
作者:
Ye, Jing
;
Guo, Qingli
;
Hu, Yu
;
Li, Xiaowei
收藏
  |  
浏览/下载:271/0
  |  
提交时间:2019/04/03
Arbiter physical unclonable function (PUF)
delay fault
diagnostic challenge
fault diagnosis
stuck-at fault
Fault tolerance on-chip: a reliable computing paradigm using self-test, self-diagnosis, and self-repair (3S) approach
期刊论文
SCIENCE CHINA-INFORMATION SCIENCES, 2018, 卷号: 61, 期号: 11, 页码: 17
作者:
Li, Xiaowei
;
Yan, Guihai
;
Ye, Jing
;
Wang, Ying
收藏
  |  
浏览/下载:77/0
  |  
提交时间:2019/12/10
fault tolerance
on-chip
self-test
self-diagnosis
self-repair
Fault tolerance on-chip:a reliable computing paradigm using self-test,self-diagnosis,and self-repair (3S)approach
期刊论文
中国科学:信息科学(英文版), 2018, 卷号: 61.0, 期号: 011, 页码: 112102
作者:
Xiaowei LI
;
Guihai YAN
;
Jing YE
;
Ying WANG
收藏
  |  
浏览/下载:14/0
  |  
提交时间:2023/12/04
fault
tolerance
on-chip
self-test
self-diagnosis
self-repair
Node grouping in system-level fault diagnosis
期刊论文
JOURNAL OF COMPUTER SCIENCE AND TECHNOLOGY, 2001, 卷号: 16, 期号: 5, 页码: 474-479
作者:
Zhang, DF
;
Xie, GG
;
Min, YH
收藏
  |  
浏览/下载:72/0
  |  
提交时间:2019/12/16
system-level fault diagnosis
one-step t-diagnosable system
node grouping
diagnosis algorithm
probabilistic diagnosis