中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	Functional Test Generation for Hard-to-Reach States Using Path Constraint Solving 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2016, 卷号: 35, 期号: 6, 页码: 999-1011 作者:  Zhou, Yanhong;  Wang, Tiancheng;  Li, Huawei;  Lv, Tao;  Li, Xiaowei 收藏  |  浏览/下载：72/0  |  提交时间：2019/12/13 Abstraction-guided simulation  functional test generation  hard-to-reach states  path constraint solving
	Abstraction-Guided Simulation Using Markov Analysis for Functional Verification 期刊论文 IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, 2016, 卷号: 35, 期号: 2, 页码: 285-297 作者:  Wang, Jian;  Li, Huawei;  Lv, Tao;  Wang, Tiancheng;  Li, Xiaowei;  Kundu, Sandip 收藏  |  浏览/下载：46/0  |  提交时间：2019/12/13 Abstraction-guided simulation  Markov analysis  semi-formal verification