中文版 | English

在结果中检索

CSpace

浏览/检索结果: 共6条，第1-6条 帮助

已选(0)清除 条数/页：   排序方式：
香山开源高性能RISC-V处理器设计与实现 期刊论文
计算机研究与发展, 2023, 卷号: 60, 期号: 3, 页码: 476
作者:  王凯帆;  徐易难;  余子濠;  唐丹;  陈国凯;  陈熙;  勾凌睿;  胡轩;  金越;  李乾若;  李昕;  蔺嘉炜;  刘彤;  刘志刚;  王华强;  王诲喆;  张传奇;  张发旺;  张林隽;  张紫飞;  张梓悦;  赵阳洋;  周耀阳;  邹江瑞;  蔡晔;  郇丹丹;  李祖松;  赵继业;  何伟;  孙凝晖;  包云岗
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2024/05/20
RISC-V  high performance processor  open source  chip design  agile development  RISC-V  高性能处理器  开源  芯片设计  敏捷开发  
芯片敏捷开发实践:标签化RISC-V 期刊论文
计算机研究与发展, 2019, 卷号: 56.0, 期号: 1.0, 页码: 35
作者:  余子濠;  刘志刚;  李一苇;  黄博文;  王卅;  孙凝晖;  包云岗
收藏  |  浏览/下载：15/0  |  提交时间：2023/12/04
RISC-V  Chisel  开源  芯片设计  敏捷开发  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  吕涛;  李华伟;  李晓维
Adobe PDF(361Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/03/30
基于模拟的验证技术在CPU设计中的应用 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1257
作者:  吕涛;  李华伟;  李晓维;  樊建平
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
验证技术  CPU  设计验证  模拟  测试矢量自动产生  覆盖率  设计方法  芯片设计  
RTL集成电路的时序深度 期刊论文
同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1209
作者:  高燕;  沈理
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
RTL集成电路  高层次测试  硬件描述语言  时序深度  寄存器传输液  芯片设计  
可测试性设计中的功耗优化技术 期刊论文
贵州工业大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 31.0, 期号: 004, 页码: 1
作者:  李文;  周旭;  范东睿;  蒋敬旗
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
可测试性设计  功耗优化  低功耗  测试  超大规模集成电路  芯片设计