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利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421
作者:  徐君
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测试功耗  电源屏蔽  可测性设计  VLSI  
无权访问的条目 期刊论文
作者:  王 伟;  韩银和;  胡 瑜;  李晓维;  张佑生
Adobe PDF(340Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/10/13
无权访问的条目 期刊论文
作者:  韩银和;  李晓维
Adobe PDF(444Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/11/23
CMOS VLSI电路无时延平均功耗和有时延平均功耗之间的单调递增关系及其应用 期刊论文
中国科学：E辑, 2003, 卷号: 33.0, 期号: 002, 页码: 174
作者:  骆祖莹;  闵应骅;  杨士元;  李晓维
收藏  |  浏览/下载：9/0  |  提交时间：2023/12/04
CMOS  VLSI电路  无时延平均功耗  单调递增关系  功耗估计  测试功耗  有时延平均功耗  集成电路