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	数字电路测试压缩方法研究期刊论文中国科学院研究生院学报, 2007, 卷号: 24.0, 期号: 006, 页码: 847 作者: HAN YinHe; LI XiaoWei 收藏 \| 浏览/下载：8/0 \| 提交时间：2023/12/04 系统芯片测试激励压缩测试响应压缩扫描设计自动测试向量生成（ATPG）不关心位未知位卷积编码
	无权访问的条目期刊论文作者: 董婕; 胡瑜; 韩银和; 李晓维 Adobe PDF(374Kb) \| 收藏 \| 浏览/下载：0/0 \| 提交时间：2010/10/15
	无权访问的条目期刊论文作者: 徐勇军; 张伸; 张志敏; 李晓维 Adobe PDF(378Kb) \| 收藏 \| 浏览/下载：0/0 \| 提交时间：2010/11/23
	可测试性设计技术在一款通用CPU芯片中的应用期刊论文计算机工程与应用, 2002, 卷号: 38.0, 期号: 016, 页码: 191 作者: 李华伟; 李晓维; 尹志刚; 吕涛; 何蓉晖收藏 \| 浏览/下载：12/0 \| 提交时间：2023/12/04 可测试性设计 CPU芯片扫描设计 TEEE1149.1标准

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