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基于扫描链的可编程片上调试系统 期刊论文
高技术通讯, 2015, 卷号: 000, 期号: 006, 页码: 584
作者:  陈华军;  娄卓阳;  王焕东;  刘慧;  王琳
收藏  |  浏览/下载：11/0  |  提交时间：2023/12/04
硅后调试  片上调试系统  可编程  可调试性设计  故障诊断  实速测试  
超大规模集成电路可调试性设计综述 期刊论文
计算机研究与发展, 2012, 卷号: 49.0, 期号: 1.0, 页码: 21
作者:  钱诚;  沈海华;  陈天石;  陈云霁
收藏  |  浏览/下载：8/0  |  提交时间：2023/12/04
调试  验证  硅后验证  并行程序调试  可调试性设计  
一种面向多核处理器的通用可调试性架构 期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2011, 卷号: 23.0, 期号: 010, 页码: 1656
作者:  杨旭;  刘江;  钱诚;  苏孟豪;  吴瑞阳;  陈云霁;  胡伟武
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多核  片上网络  可调试性设计  硅后调试  
VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文
计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92
作者:  沈理
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VLSI芯片  可测试性  可调试性  可制造性  可维护性  设计  超大规模集成电路