中国科学院计算技术研究所机构知识库

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	无权访问的条目 期刊论文 作者:  裴颂伟;  李华伟 Adobe PDF(496Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/03/30
	利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗 期刊论文 计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421 作者:  徐君 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 测试功耗  电源屏蔽  可测性设计  VLSI
	无权访问的条目 期刊论文 作者:  王飞;  胡瑜;  李华伟;  李晓维 Adobe PDF(589Kb)  |  收藏  |  浏览/下载：0/0  |  提交时间：2010/01/13
	应用于逻辑核的BIST关键技术研究 期刊论文 计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55 作者:  李吉;  徐勇军;  韩银和;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 可测性设计  逻辑内建自测试  测试点插入
	基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计 期刊论文 计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30 作者:  鲁巍;  杨修涛;  李晓维 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 边界扫描  可测性设计  IEEEI  149．1  标准（JTAG）
	SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响 期刊论文 计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 006, 页码: 763 作者:  陈志冲;  周锦锋;  倪光南 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 SoC设计  嵌入存储器  ATPG  系统级芯片  可测性设计
	一款通用CPU的存储器内建自测试设计 期刊论文 同济大学学报：自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204 作者:  何蓉晖;  李华伟;  李晓维;  宫云战 收藏  |  浏览/下载：5/0  |  提交时间：2023/12/04 CPU  存储器内建自测试  故障模型  march算法  可测性设计  超大规模集成电路  IP核