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中国科学院计算技术研究所机构知识库
Institute of Computing Technology, Chinese Academy IR
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期刊论文
作者:
裴颂伟
;
李华伟
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提交时间:2010/03/30
利用新型的电源屏蔽实现方法降低测试功耗
期刊论文
计算机辅助设计与图形学学报, 2010, 卷号: 000, 期号: 009, 页码: 1421
作者:
徐君
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提交时间:2023/12/04
测试功耗
电源屏蔽
可测性设计
VLSI
无权访问的条目
期刊论文
作者:
王飞
;
胡瑜
;
李华伟
;
李晓维
Adobe PDF(589Kb)
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提交时间:2010/01/13
应用于逻辑核的BIST关键技术研究
期刊论文
计算机工程, 2005, 卷号: 31.0, 期号: 023, 页码: 55
作者:
李吉
;
徐勇军
;
韩银和
;
李晓维
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
可测性设计
逻辑内建自测试
测试点插入
基于JTAG标准的边界扫描在通用CPU中的设计
期刊论文
计算机工程, 2004, 卷号: 30.0, 期号: 019, 页码: 30
作者:
鲁巍
;
杨修涛
;
李晓维
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
边界扫描
可测性设计
IEEEI
149.1
标准(JTAG)
龙芯1号通用CPU芯片的研制
期刊论文
中国科学院院刊, 2002, 卷号: 17.0, 期号: 006, 页码: 437
作者:
唐志敏
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
龙芯1号
CPU芯片
设计技术
可测性
仿真
SoC设计中嵌入存储器对ATPG的影响
期刊论文
计算机研究与发展, 2002, 卷号: 39.0, 期号: 006, 页码: 763
作者:
陈志冲
;
周锦锋
;
倪光南
收藏
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浏览/下载:13/0
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提交时间:2023/12/04
SoC设计
嵌入存储器
ATPG
系统级芯片
可测性设计
一款通用CPU的存储器内建自测试设计
期刊论文
同济大学学报:自然科学版, 2002, 卷号: 30.0, 期号: 010, 页码: 1204
作者:
何蓉晖
;
李华伟
;
李晓维
;
宫云战
收藏
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浏览/下载:10/0
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提交时间:2023/12/04
CPU
存储器内建自测试
故障模型
march算法
可测性设计
超大规模集成电路
IP核