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VLSI芯片的可测试性、可调试性、可制造性和可维护性设计 期刊论文
计算机工程与科学, 2003, 卷号: 25.0, 期号: 1.0, 页码: 92
作者:  沈理
收藏  |  浏览/下载：10/0  |  提交时间：2023/12/04
VLSI芯片  可测试性  可调试性  可制造性  可维护性  设计  超大规模集成电路